知的財産権
公開件数:9件
No. 種別 名称 出願番号 出願日 公開番号 公開日 公表番号 公表日 登録番号 登録日 出願状況
1 特許
距離測定装置
特願2020-182381
2014/08/27




特許第6895192号
2021/06/09
登録
2 特許
距離測定装置
特願2014-172930
2014/08/27
特開2016-048188
2016/04/07


特許第6836048号
2021/02/09
登録
3 特許
形状測定方法及び形状測定装置
特願2016-40061 (PCT/JP2016/088196)
2016/12/21
WO2017/149912
2017/09/08


特許第6820020号
2021/01/06
登録
4 特許
形状測定方法及び形状測定装置
16/081,216
2016/12/21
WO2017/149912
2017/09/08


US10,760,900
2020/09/01
登録
5 特許
屈折率補正法、距離測定法及び距離測定装置
特願2015-220789
2015/11/10
特開2017-090259
2017/05/25


特許第6635758
2019/12/27
登録
6 特許
2次元分光法および2次元分光装置
PCT/JP2019/001885
2019/01/22






出願
7 特許
干渉信号強度取得方法及び干渉信号強度取得装置
PCT/JP2019/001857
2019/01/22






出願
8 特許
2次元分光計測方法及び2次元分光計測装置
PCT/JP2019/001898
2019/01/22






出願
9 特許
光コムの制御方法及び光コムの制御装置
PCT/JP2018/006447
2018/02/22
WO2018-159445
2018/09/07




公開