| No. |
種別 |
名称 |
出願番号 |
出願日 |
公開番号 |
公開日 |
公表番号 |
公表日 |
登録番号 |
登録日 |
出願状況 |
| 1 |
特許
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距離測定装置
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特願2020-182381
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2014/08/27
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特許第6895192号
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2021/06/09
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登録
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| 2 |
特許
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距離測定装置
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特願2014-172930
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2014/08/27
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特開2016-048188
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2016/04/07
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特許第6836048号
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2021/02/09
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登録
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| 3 |
特許
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形状測定方法及び形状測定装置
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特願2016-40061 (PCT/JP2016/088196)
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2016/12/21
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WO2017/149912
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2017/09/08
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特許第6820020号
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2021/01/06
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登録
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| 4 |
特許
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形状測定方法及び形状測定装置
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16/081,216
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2016/12/21
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WO2017/149912
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2017/09/08
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US10,760,900
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2020/09/01
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登録
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| 5 |
特許
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屈折率補正法、距離測定法及び距離測定装置
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特願2015-220789
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2015/11/10
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特開2017-090259
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2017/05/25
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特許第6635758
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2019/12/27
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登録
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| 6 |
特許
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2次元分光法および２次元分光装置
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PCT/JP2019/001885
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2019/01/22
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出願
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| 7 |
特許
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干渉信号強度取得方法及び干渉信号強度取得装置
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PCT/JP2019/001857
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2019/01/22
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出願
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| 8 |
特許
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2次元分光計測方法及び2次元分光計測装置
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PCT/JP2019/001898
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2019/01/22
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出願
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| 9 |
特許
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光コムの制御方法及び光コムの制御装置
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PCT/JP2018/006447
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2018/02/22
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WO2018-159445
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2018/09/07
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公開
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