No. |
種別 |
名称 |
出願番号 |
出願日 |
公開番号 |
公開日 |
公表番号 |
公表日 |
登録番号 |
登録日 |
出願状況 |
1 |
特許
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形状測定方法及び形状測定装置
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602016066176.4(DE), 16892746.5 (EP)
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2016/12/21
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WO2017/149912
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2017/09/08
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移行日
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2018/10/01
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602016066176.4(DE), 3425326(EP)
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2021/11/10
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登録
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2 |
特許
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光コムの制御方法及び光コムの制御装置
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PCT/JP2018/006447
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2018/02/22
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WO2018-159445
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2018/09/07
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特許第6963322 (P6963322)
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2021/10/19
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公開
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3 |
特許
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距離測定装置
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特願2020-182381
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2014/08/27
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特許第6895192号
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2021/06/09
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登録
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4 |
特許
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距離測定装置
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特願2014-172930
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2014/08/27
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特開2016-048188
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2016/04/07
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特許第6836048号
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2021/02/09
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登録
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5 |
特許
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形状測定方法及び形状測定装置
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特願2016-40061 (PCT/JP2016/088196)
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2016/12/21
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WO2017/149912
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2017/09/08
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特許第6820020号
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2021/01/06
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登録
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6 |
特許
|
形状測定方法及び形状測定装置
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16/081,216
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2016/12/21
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WO2017/149912
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2017/09/08
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移行日
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2018/08/30
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US10,760,900
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2020/09/01
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登録
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7 |
特許
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屈折率補正法、距離測定法及び距離測定装置
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特願2015-220789
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2015/11/10
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特開2017-090259
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2017/05/25
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特許第6635758
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2019/12/27
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登録
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8 |
特許
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2次元分光法および2次元分光装置
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PCT/JP2019/001885
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2019/01/22
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出願
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9 |
特許
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干渉信号強度取得方法及び干渉信号強度取得装置
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PCT/JP2019/001857
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2019/01/22
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出願
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10 |
特許
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2次元分光計測方法及び2次元分光計測装置
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PCT/JP2019/001898
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2019/01/22
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出願
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