受賞
公開件数:14件
No. 賞名 タイトル 受賞年月日
1 第30回秋期シンポジウム優秀賞
テキストマイニングと機能共鳴分析法を用いた自動車リコール情報の分析
2018/06/05
2 2016春期シンポジウム優秀賞
リチウムイオン二次電池の劣化における充放電サイクル数と待機時間の影響
2017/05/31
3 2014春期シンポジウム優秀賞
原子輸送モデルと応用分布による突出し配線におけるストレス誘起ボイドのレイアウト依存性解析
2015
4 日経品質管理文献賞
新版 信頼性ハンドブック(日科技連出版社)
2014
5 IEEE Reliability Society Japan Chapter Awards 2013
Lifetime Distribution Analysis of Stress-induced Voiding Based on Void Nucleation and Growth in Cu/low-κ Interconnects
2014
6 Advanced Metallization Conference (ADMETA) Technical Award 2011
Modified thermal response model for Joule heating of multi-level Cu/Low-k interconnects
2012
7 Advanced Metallization Conference (ADMETA) Award 2010
Role of Impurity Segregation to Cu/Cap Interface and Grain Boundary on Resistivity and Electromigration in Cu/low-k interconnects
2011
8 2009秋期シンポジウム優秀賞
HfSiOxによる仕事関数制御MOSトランジスタにおけるランダム・テレグラフ・ノイズ
2011
9 IEEE Reliability Society Japan Chapter Awards 2007
Effects of Al doping on the electromigration performance of damascene Cu interconnects
2008
10 第16回電子デバイスの信頼性シンポジウム技術賞
インバーターチェーン回路を用いたSoft Breakdown 起因のIDD劣化評価
2007
11 第15回電子デバイスの信頼性シンポジウム優秀論文賞
低い累積故障確率におけるエレクトロマイグレーション寿命とボイド形成
2006
12 高木賞
サドンデスTEGとOBIRCHを用いたダマシンCu配線のエレクトロマイグレーション評価
2004
13 第10回電子デバイスの信頼性シンポジウム優秀論文賞
多層ダマシンCu配線のエレクトロマイグレーションに関する一考察
2001
14 日本設備管理学会論文賞
劣化量データを用いた設備の最適保全方策とパラメータ推定
1996