研究発表
公開件数:31件
No. 研究発表種別 タイトル 会議名/掲載誌名 巻号頁
または発表番号
査読の有無 講演者 開催年月日 URL
1 学会口頭発表
グラフ列挙による風力・太陽光・蓄電池複合システムの重複グルーピング最適化
計測自動制御学会システム・情報部門学術講演会


武田健吾, 澤田 賢治, 横川 慎二, 新誠一
2018/11/25

2 学会口頭発表
エレクトロマイグーション のチップレベル 寿命分布の考察
ADMETA Satellite Workshop


横川慎二, 國井喬介
2018/11/02

3 学会口頭発表
局所クラスタ化した欠陥を伴うTDDB の寿命分布のパラメータ推定精度の研究
ADMETA Satellite Workshop


國井喬介, 遠藤駿, 横川慎二
2018/11/02

4 学会口頭発表
創発的不具合における機能共鳴の分析と分類
第9回横幹連合コンファレンス


横川 慎二
2018/10/06

5 学会口頭発表
グルーピング列挙による風力・太陽光・蓄電池複合システムの重複グルーピング最適化
第9回横幹連合コンファレンス


武田健吾, 澤田 賢治, 横川 慎二, 新誠一
2018/10/06

6 学会口頭発表
グローバル展開を前提とした超スマート社会の確立を目指すエネルギープラットフォーム
第9回横幹連合コンファレンス


市川 晴久, 横川 慎二, 川喜田 佑介
2018/10/06

7 学会口頭発表
アンケート分析によるエゾシカ肉の旨味評価と電気的測定評価との関連
電子情報通信学会電子部品・材料研究会8月度研究会


武山真弓, 横川慎二, 佐藤勝, 安井崇
2018/08/10

8 学会口頭発表
畳み込みニューラルネットワークを用いたシステムの特性劣化の特徴量抽出と運用条件検討への応用
信頼性・保全性シンポジウム


遠藤駿, 横澤成望, 川上紗野花, 國井喬介, 横川慎二
2018/07/19

9 学会口頭発表
Hybrid Policy Gradient for Deep Reinforcement Learning
人工知能学会全国大会


P. S. THAKUR, M. SOGABE, K. SAKAMOTO, K. YAMAGUCHI, D. B. MALLA, S. YOKOGAWA, T. SOGABE
2018/06/05

10 学会口頭発表
量子事故符号化器の開発
人工知能学会全国大会


黄川田優太, 坂本克好, 山口浩一, 横川慎二, 曽我部東馬
2018/06/05

11 学会口頭発表
特徴グラフを用いた汎用型CNN深層学習手法の開発
人工知能学会全国大会


高橋 慧, 沼尻 匠, 曽我部 完, 坂本 克好, 山口 浩一, 横川 慎二, 曽我部 東馬
2018/06/05

12 学会口頭発表
畳み込みニューラルネットワークを用いた設備特性劣化のオンラインモニタリングデータ分析
第30回日本信頼性学会秋季信頼性シンポジウム


横澤成望, 横川慎二
2017/11/27

13 学会口頭発表
テキストマイニングと機能共鳴分析法を用いた自動車のリコール情報の分析
第30回日本信頼性学会秋季信頼性シンポジウム


横川慎二, 國井喬介
2017/11/27

14 学会口頭発表
システムの不具合における創発性の影響について
第60回自動制御連合講演会


横川慎二
2017/11/10

15 学会口頭発表
リチウムイオン二次電池の劣化における二変量ストレスの交互作用に着目した統計モデリング
2017年電気化学秋季大会


横川慎二,國井喬介,横澤成望
2017/09/10

16 学会口頭発表
リチウムイオン二次電池の劣化における充放電サイクルと待機時間の影響
日本信頼性学会春季信頼性シンポジウム


横川慎二
2016/05/23

17 シンポジウム
ベイズ推測によるワイブル初期故障分布の推定・評価
第28回RCJ電子デバイスの信頼性シンポジウム


横川慎二
2018/11/27

18 シンポジウム
Parameter estimation accuracy of TDDB lifetime distribution with clustering defects using the Bayesian approach
Advanced Metallization Conference 2018, Asian session


Kyosuke Kunii, Shun Endo, Shinji Yokogawa
2018/10/12

19 シンポジウム
Temperature and Humidity Acceleration to Establish Lifetime Prediction Model for Cu-based Metallization
International Conference on Solid State Devices and Materials


P. Gomasang, S. Ogiue, S. Yokogawa, and K. Ueno
2018/09/10

20 シンポジウム
Oxidation Structure Change of Copper Surface Depending on Accelerated Humidity
IEEE International Interconnect Technology Conference


P. Gomasang, S. Ogiue, K. Ueno, and S. Yokogawa
2018/06/14

21 シンポジウム
Application of fault tree analysis for interconnect reliability assessment
Advanced Metallization Conference 2017, Asian session


Shinji Yokogawa, Kyosuke Kunii
2017/10/19

22 シンポジウム
Statistical evaluation of lifetime distribution with defect clustering by using two-step probability plot and multi-link test scheme
Advanced Metallization Conference 2017, Asian session


Kazuki Tate and Shinji Yokogawa
2017/10/19

23 シンポジウム
A simple method of parameter estimating for time-dependent clustering model in MOL/BEOL TDDB lifetime
Advanced Metallization Conference 2016, Asian session


Shinji Yokogawa
2016/10/20

24 シンポジウム
A simulation study of impacts of global and local space variations on lifetime distribution in MOL/BEOL TDDB
Advanced Metallization Conference 2015, Asian session


Shinji Yokogawa
2015/09/17

25 シンポジウム
An analysis of statistical characteristics of lifetime distribution based on the defect clustering for MOL/BEOL TDDB
Advanced Metallization Conference 2014: 24th Asian Session


Shinji Yokogawa
2014/10/23

26 シンポジウム
Lifetime Prediction Model for Stress-induced Voiding in Cu/low-k Interconnects
Advanced Metallization Conference 2013: 23rd Asian Session


Shinji Yokogawa
2013/10/08

27 ワークショップ
多層配線の故障物理メカニズムと信頼度予測
JEITA 半導体デバイス信頼性セミナー


横川慎二
2018/11/16

28 国際会議招待講演
Reliability statistics for next-generation interconnects -The combination of physical modeling and statistical techniques-
2019 MRS Spring Meeting


S. Yokogawa
2019/04/23

29 国際会議招待講演
Physical and Statistical Analysis and Methodologies for Realizing Automotive-Level Extremely Low Defect Densities (FEOL/MOL/BEOL)
International Conference on IC Design and Technology


Shinji Yokogawa
2018/06/04

30 国際会議招待講演
Middle of Line (MOL) Reliability - in between FEOL and BEOL -
International Reliability Physics Symposium


Shinji Yokogawa
2015/04/19

31 国内会議招待講演
半導体集積回路配線の信頼性課題と寿命予測
応用物理学会春季学術講演会


横川慎二
2017/03/15